ITEST
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Nous maîtrisons toutes les étapes nécessaires à l'élaboration de nos produits, du prototype jusqu'à la série.

  • iTest réalise le design complet: électronique, logiciel, mécanique, thermique
  • iTest contrôle l'approvisionnement de ses composants et rédige ses dossiers de fabrication.
  • Les tâches de production sont confiées en France à des entreprises partenaires d'un haut niveau de qualité
  • iTest réalise ensuite le test, la calibration, l'assemblage, l'intégration, l'installation et le service après vente.
L'entreprise débute en 1996 sous le nom de Hirex Electronics. Elle est créée par deux ingénieurs issus du test du composant. Le produit BILT est rapidement développé pour réaliser des tests de fiabilité de composant électronique. Le premier châssis BILT est livré en 1997. L'entreprise est alors une filiale de Hirex Engineering, avec qui elle exécute en particulier des test de composants électroniques soumis aux radiations.
En 2002, la société se sépare complètement du groupe Hirex et de ses activités de service. Elle prend alors le nom d'iTest et devient une société entièrement indépendante.
Aujourd'hui, les applications développées sur la base du système Bilt se sont diversifiées. Sur plus de 500 systèmes installés, (et toujours en service depuis 15 ans pour les premiers banc de stress), 1/3 des ventes concernent de nouveaux domaines tels que la physique, les synchrotrons, et les applications spéciales développées avec nos nouveaux partenaires.
Components Manufacturers :
3D+ Continental Automotive, E2V, FCI, Infineon(D), Molex Automotive(USA),
OMMIC, UMS, UMS-Gmbh(D), Trixell, Tyco, Vishay, Winbond (Taiwan).

Primes :
Astrium, III-V Lab, Cnes, Norspace(N), Thalès-Alénia-Space, Thalès-Group.

Expertise Labs :
Hirex, LNE, TRAD.
Research Centers :
Synchrotron ESRF, Synchrotron SOLEIL.

Scientific Labs :
CENBG, CNRS, FBH (D), IAF - Fraünhofer (D).

University
ESPCI - Paris, GPM - Rouen, IEMN - Lille, IM2NP - Aix-Marseille, IMS - Bordeaux, EMSE - Gardanne, Unip - Padova(I).
Amcad Engineering :
Depuis 2008, iTest et Amcad travaillent ensemble sur le développement d'un système complet de génération et de mesure pulsé pour la caractérisation de transistors RF.
►Systèmes de mesure pulsés de composants RF....

LPA-ENS–CNRS :
Un autre partenariat a été mis en place avec le laboratoire LPA-ENS du CNRS, qui concerne le développement d'une source très haute résolution, ultra faible bruit (BE2100) destinée, en particulier, à la polarisation de nanostructures.
►Source DC Haute Résolution Ultra Faible Bruit, Séries BE2100....
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